Дипломная работа на тему: Основная часть. Что такое сканирующая зондовая микроскопия

Введение

Сканирующий Зондовый Микроскоп (СЗМ) - это прибор, дающий возможность исследования свойств поверхностей материалов от микронного до атомарного уровня. В СЗМ существует три способа исследования поверхностей:

- Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)

- Сканирующая силовая микроскопия (ССМ)

- Близкопольная сканирующая микроскопия (БСМ).

СТМ был изобретен сотрудниками швейцарского филиала фирмы IВМ учеными Г.Биннигом и X. Рорером в 1981 г., а ССМ - Кэлвином Гвэйтом, Гердом Биннигом и Кристофером Гербером, в 1986г. Эти технологии оказались революционными в развитии исследований свойств поверхностей и в 1985 изобретение СТМ было отмечено присуждением нобелевской премии по физике первооткрывателям - Г. Биннигу и X. Рореру.

Оглавление

- 1.введение. 2

- Основная часть

- Что такое сканирующая зондовая микроскопия

- Современные методы исследований СЗМ

- Методики СТМ

- Объекты исследования

- Режимы работы СТМ

- Режим топографии Iсопst. 7

- Режим регистрации тока Zconst. 7

- Режим ошибки обратной связи FВ-еrrоr

- Методики ССМ

- Контактный режим

- Силы, действующие между кантилевером и образцом

- Топография поверхности режим постоянной

- 2.2.2.3 Режим снятия изображения сил

- Режим регистрации ошибки обратной связи

- Измерение боковых сил

- Вибрационные и модуляционные методы измерений

- СТМ-методы

- Режим измерения локальной высоты барьера

- Режим спектроскопии

- АСМ-методы

- Бесконтактный режим

- Полуконтактный режим

- Режим измерения жесткости

- Схема взаимодействия компонентов

- Схема регистрации отклонения кантилевера

- 3. заключение. 26

- 4. литература. 27