Дипломная работа на тему: Измерение состава сплава висмут-сурьма по длине слитка после правленной кристаллизации методом

Введение

В физике твердого тела возникает задача количественного определения элементного состава исследуемого образца. Одним из способов такого определения является метод, рентгеноспектрального микроанализа. Прибор, проводящий его это электронный микроскоп. При взаимодействии электронных пучков с атомами исследуемого образца, происходит выбивание электронов, в следствии чего происходит переход оставшихся электронов на более низкие уровни с попутным испускание электромагнитного излучения рентгеновского спектра. Данный метод позволяет очень точно определить не только полный состав образца, но и процентное содержание примесей в любой точке. Недостатком данного способа измерения является: малая глубина проникновения электронного зонда, необходимость проведения исследований в вакууме, предельная чистота поверхности.

Также может возникнуть потребность в исследовании образца произвольной толщины. В этом случае можно использовать другие методы анализа:

- химический (титриметрия и гравиметрия)

- физико-химический (спектрофотометрия и хроматография)

- физический (атомно-абсорбционная и атомно-эмиссионная

- спектроскопия, рентгенофлуоресцентный)

Но эти способы не являются подходящими в виду того, что обладают разрушающими действиями на исследуемый образец (кроме рентгенофлуоресцентного).

В связи с этим возникает задача разработки методики количественного определения состава образцов рентгеноспектральным микроанализом, анализом при работе с образцами произвольной площади.

Таким образом, целью данной работы является изучение методики проведения количественного элементного анализа.

Задачами являются: обзор теоретического материала, проведение эксперимента и анализ экспериментальных данных.

В качестве исследуемого материала был выбран сплав висмут-сурьма так как он является полупроводниковым материалом с перспективами его использования в термоэлектронных технологиях.

рентгеноспектральный физический микроскопия напряжение

Оглавление

- Введение

- Обзор теоретического материала

- Химические методы анализа

- Физико-химические методы анализа

- Физические методы анализа

- Основы рентгеноструктурного микроанализа

- Методы детектирования

- Электронные микроскопы

- Виды электронных микроскопов

- Физические основы растровой электронной микроскопии

- Принципы количественного рентгеноспектрального микроанализа

- Эксперимент

- Подготовка образца

- Эксперимент

- Экспериментальные данные Заключение

- Список литературы

Список литературы

1. Васильев В.П. Аналитическая химия. В 2 ч. М.: Высш. шк., 1989. 320, 384 с.

. Скуг Д., Уэст Д. Основы аналитической химии. Т.1 и 2. М.: Мир, 1979. 480, 438 с.

. Лосев Н.Ф., Смагунова А.Н. Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа. М.: Химия, 1982. 206 с.

. Миронов В. Основы сканирующей зондовой микроскопии. М: Техносфера, 2005. 144 с.

5. В. Скотт, Г. Лав. Количественный электронно-зондовый микроанализ. М: Мир. 1989, 352 с.

. Коникова С.Г., Сидорова А.Ф. Электронно-зондовый микроанализ. М, Мир, 1974. 352 с.

. Павлова Л.А, Белоозерова О.Ю., Парадина Л.Ф., Суворова Л.Ф. Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов: М; Наука, 2000,218 с.

. Рид С. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. М, Техносфера, 2008.232 с.

. Криштал М., Ясников И., Полунин В.,Филатов А., Ульяненков А. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ. Техносфера, 2009.208 с.

. Верховодов П.А. Рентгеноспектральный анализ: вопросы теории и способы унификации. Наукова Думка, 1984. 159 с.

. Коляда В.М., Зайченко А.К., Дмитреенко Р.В. Рентгеноспектральный анализ с ионным возбуждением. Атомиздат, 1978. 246.

. Гоулдстейн Дж. Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Ф. Растровая электронная микроскопия. Мир, 1984. 303 с.

. Куприянова Т.А., Дицман С.А. Использование зависимости интенсивности линий от ускоряющего напряжения для определения концентраций в рентгеновском микроанализе. Заводск, 1970, 1342 с.