1. Построить гистограмму распределения количества дефектов по видам.
2. Построить кривую Парето и проанализировать ее вид.
Сделать выводы о качестве исследуемого производственного процесса и проведенного анализа.
3. Построить диаграмму Исикава для определения причины появления наиболее часто встречающегося дефекта.