Изучение рентгенограмм поликристаллов является важным методом анализа их структуры. В данной работе проведено исследование рентгеновских лучей, пройденных через поликристаллический образец объемом. Были получены данные об угловом распределении интенсивности дифрагированных лучей, что позволило определить углы дифракции кристаллических плоскостей. Анализ этих данных позволил сделать выводы о структуре поликристалла, включая ориентацию зерен и их размеры. Также были определены параметры ячейки кристаллической решетки и угол наклона кристаллических плоскостей. Исследование позволило получить информацию о кристаллической структуре материала, что может быть полезно для его дальнейшего использования в различных областях науки и промышленности.